一．MCU測(cè)驗(yàn) 

1．mcu作業(yè)電壓及電流,  測(cè)驗(yàn)超低功耗MCU作業(yè)電壓是否在作業(yè)電壓規(guī)模，電壓過(guò)高會(huì)影響MCU的正常作業(yè)乃至燒壞，作業(yè)電壓過(guò)低會(huì)影響MCU的外圍電路驅(qū)動(dòng)才能，低功耗芯片乃至導(dǎo)致外圍電路不能正常作業(yè)。

2． mcu靜態(tài)電流 

靜態(tài)電流是衡量低功耗MCU功用的主要參數(shù)之一，靜態(tài)電流越小越好，依據(jù)MCU標(biāo)準(zhǔn) 書測(cè)驗(yàn)靜態(tài)電流是否符合要求，一旦MCU有損壞的話，靜態(tài)電流就會(huì)變大，會(huì)添加產(chǎn)品的靜耗，致使產(chǎn)品全體功耗添加。

3．mcu的振動(dòng)頻率 

如MCU為外接晶振型的，需求檢測(cè)其正常作業(yè)時(shí)超低功耗MCU芯片的晶振輸入腳的振動(dòng)頻率是否正確，假如晶振振動(dòng)頻率不符合要求則會(huì)影響產(chǎn)品的守時(shí)及延時(shí)，乃至不能正常作業(yè)。

 二．.產(chǎn)品的組合功用測(cè)驗(yàn)(低功耗MCU芯片在線體系測(cè)驗(yàn)) 

1．測(cè)驗(yàn)單片機(jī)軟件功用的完善性。這是針對(duì)一切單片機(jī)體系功用的測(cè)驗(yàn),測(cè)驗(yàn)軟件是否寫的正確完好。

2．上電、掉電測(cè)驗(yàn)。在運(yùn)用中用戶必然會(huì)遇到上電和掉電的狀況,能夠進(jìn)行屢次開關(guān)電源,測(cè)驗(yàn)單片機(jī)體系的可靠性。

3．老化測(cè)驗(yàn)。測(cè)驗(yàn)長(zhǎng)期作業(yè)狀況下,單片機(jī)體系的可靠性。必要的話能夠放置在高溫,高壓以及強(qiáng)電磁攪擾的環(huán)境下測(cè)驗(yàn)。

4、ESD和EFT等測(cè)驗(yàn)。能夠運(yùn)用各種攪擾模仿器來(lái)測(cè)驗(yàn)單片機(jī)體系的可靠性。例如運(yùn)用靜電模仿器測(cè)驗(yàn)單片機(jī)體系的抗靜電ESD才能;運(yùn)用突波雜訊模仿器進(jìn)行快速脈沖抗攪擾EFT測(cè)驗(yàn)等等。  還能夠模仿人為運(yùn)用中,可能發(fā)生的損壞狀況。例如用人體或許衣服織物成心沖突單片機(jī)體系的觸摸端口,由此測(cè)驗(yàn)抗靜電的才能。用大功率電鉆接近單片機(jī)體系作業(yè),由此測(cè)驗(yàn)抗電磁攪擾才能等。